溫度急變環(huán)境
濕度急變試驗(yàn)是模擬使用usb連接器在寒冷的環(huán)境轉(zhuǎn)入溫暖環(huán)境的實(shí)際使用情況，或者模擬空間飛行器、探測器環(huán)境溫度急劇變化的情況。溫度急變可能使絕緣材料裂紋或起層。
空氣稀薄環(huán)境
在空氣稀薄的高空，塑料放出氣體污染接觸對，并使電暈產(chǎn)生的趨勢增加，耐壓性能下降，使電路產(chǎn)生短路故障。在高空達(dá)到某一定值時(shí)，塑料性能變差。因此在高空使用非密封連接器時(shí)，必須降額使用。
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