粗糙度儀測量平臺 TS620 TA610 TA630 TA631
產(chǎn)品說明:
TA630調(diào)整范圍:*向:±12.5mm;Y向:±12.5mm
旋轉(zhuǎn)角度:粗調(diào):3600;微調(diào):±50;俯仰角度:0-50
TA631調(diào)整范圍:*向:±12.5mm,Y向:±12.5mm
旋轉(zhuǎn)角度:粗調(diào):3600;微調(diào):±50
- 齒條升降,立柱可以隨意轉(zhuǎn)動,用來測量不容易放置的工件,可提高測量精度
- 花崗巖平臺平面度:00級|平面公差值3μm
- 花崗巖平臺尺寸:400×250×70mm
- 垂直升降高度:270mm
- 垂直升降微調(diào)量:20mm
粗糙度儀測量平臺TA620
- 絲桿升降,平臺上設(shè)置V型槽,用來測量形狀較小的工件,可提高測量精度
- 花崗巖平臺平面度:00級|平面公差值3μm
- 花崗巖平臺尺寸:400×250×70mm
- 垂直升降高度:300±1mm
- 升降回程誤差:≤手輪旋轉(zhuǎn)1/6圈
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