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TEKTRONIX 泰克KEITHLEY 4200A-SCS 參數(shù)分析儀

Tektronix 泰克

Tektronix 泰克Keithley 4200A-SCS 參數(shù)分析儀產(chǎn)品介紹：

產(chǎn)品型號：Keithley 4200A-SCS
產(chǎn)品品牌：Tektronix 泰克
產(chǎn)品類別：分析儀
產(chǎn)品備注：參數(shù)分析儀

Tektronix 泰克Keithley 4200A-SCS 參數(shù)分析儀產(chǎn)品特點：

使用 4200A-SCS 加快半導體設備、材料和工藝開發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 *參數(shù)分析儀，提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 測量。

Tektronix 泰克Keithley 4200A-SCS 參數(shù)分析儀產(chǎn)品優(yōu)勢：

大膽發(fā)現(xiàn)從未如此簡單。 4200A-SCS 參數(shù)分析儀可將檢定和測試設置的復雜程度降低高達 50%，提供清晰且不折不扣的測量和分析功能。 另外，嵌入式測量知識 可提供測試指南并讓您對結果充滿信心。

特點

• 內置英語，中文，日語和韓語版本的測量視頻

• 使用數(shù)百個用戶可修改應用測試開始您的測試

• 自動實時參數(shù)提取、數(shù)據(jù)繪圖、算數(shù)函數(shù)

測量、 切換、 重復

4200A-CVIV 多通道切換模塊自動在 I-V 和 C-V 測量之間切換，無需重新布線或抬起探頭端部。 與競爭產(chǎn)品不同，四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看，可快速完成測試設置，并在出現(xiàn)意想不到的結果時輕松排除故障。

特點

• 無需重新布線即可將 C-V 測量移動到任何設備終端

• 用戶可配置低電流功能

• 個性化輸出通道名稱

• 查看實時測試狀態(tài)

穩(wěn)定的低電流測量，適用于 I-V 檢定

使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模塊，您可以在高電容系統(tǒng)中實現(xiàn)穩(wěn)定的低電流測量。4200A-SCS 有四種型號的源測量單位 (SMU) 可供選擇，可通過定制滿足您所有的 I-V 測量需求。通過提供現(xiàn)場可安裝單元和可選的預放大器模塊，Keithley 可確保您獲得*準確的低電流測量，而停機時間很少甚至沒有。

特點

• 不必將儀器送回工廠即可增加 SMU

• 進行 飛安測量

• 多達 9 個 SMU 通道

• 針對長電纜或大卡盤進行了優(yōu)化

帶分析探測器和低溫控制器的集成解決方案。

4200A-SCS 參數(shù)分析儀支持許多手動和半自動晶片探測器和低溫控制器，包括 MPI Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。

特點

• “點擊"測試定序

• “手動"探測器模式測試探測器功能

• 假探測器模式無需移除命令即可實現(xiàn)調試

降并保護您的投資

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Tektronix 泰克Keithley 4200A-SCS 參數(shù)分析儀產(chǎn)品應用：

半導體可靠性

在執(zhí)行復雜的可靠性測試時，4200A-SCS 可以幫您處理復雜的工作。包括諸如熱載流子注入降解 (HCI) 和負偏置溫度不穩(wěn)定性 (NBTI) 之類的項目，可幫助您快速進行器件分析。對于大型實驗室，4200-BTI 套件隨附支持網(wǎng)站地圖繪制和自動探測器控制功能的 Keithley ACS 軟件。

特點

• 只需一組測試，即可滿足您的直流 I-V、C-V 和脈沖測量需求

• 支持多種探頭站和外部儀器

• 循環(huán)系統(tǒng)易于使用，允許在無需編碼的情況下重復測試

提供適合高阻抗應用的 C-V 測量功能

采用 Keithley 的自定義極低頻 C-V 技術分析高電阻樣本的電容。 該技術可通過僅使用源測量單元 (SMU) 儀器實現(xiàn)應用，同時可與 4210-CVU 結合使用，執(zhí)行更高頻率測量。

特點

• .01 ~ 10 Hz 頻率范圍，1 pF ~ 10 nF 靈敏度

• 3? 位典型分辨率，*小典型值 10 fF

非易失內存

通過脈沖 I-V 檢定在測試中利用新技術。 4200A-SCS 為*新 NVRAM 技術提供支持和即用型測試，從浮動門電路閃存到 ReRAM 和 FeRAM，不一而足。 電流和電壓雙源和測量功能同時支持瞬態(tài)和 I-V 域檢定。

使用長電纜或電容式夾具時進行測試

當測試需要非常長的電纜或具有較高電容的夾具時，請使用 4201 或4211-SMU。這些 SMU 非常適合連接 LCD 測試站、探測器、開關矩陣或任何其他大型或復雜的測試儀?，F(xiàn)場可安裝版本使您無需將設備返回服務中心即可增加容量。

納米級設備檢定

4200A-SCS 的集成儀器功能可簡化碳納米管等納米級電子器件開發(fā)方面的測量要求。 從預配置測試項目開始著手，逐步擴大您的研究工作范圍。 SMU 的脈沖源模式可幫助緩解過熱問題，數(shù)秒內即可完成與低電壓 C-V 和超快速脈沖直流測量的組合。

材料電阻率

使用集成了 SMU 的 4200A-SCS，可通過四點同軸探頭或范德堡法輕松測量電阻率。 內含測試可自動重復執(zhí)行范德堡計算，節(jié)省您寶貴的研究時間。 10aA 的*大電流分辨率和大于 10­­­­16 歐姆的輸入阻抗可提供和的結果。

MOSFET 檢定

4200A-SCS 可容納所有必要的儀器，用于通過組件或晶圓測試執(zhí)行的 MOS 設備檢定。 內含測試和項目可以解決 MOSCap 的氧化物厚度、門限電壓、摻雜濃度、移動離子濃度等問題。 只需觸摸一個儀器盒中的按鈕，即可運行所有這些測試。

技術參數(shù)

直流電流-電壓
(I-V) 范圍
10 aA – 1A
0.2 µV – 210 V

電容-電壓
(C-V) 范圍
1 kHz – 10 MHz
± 30V 直流偏置

脈沖 I-V
范圍
±40 V (80 V p-p)，±800 mA
200 MSa/s，5 ns 采樣率