美國ASI J200 LA飛秒激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)與等離子體質(zhì)譜連用,組成LA-ICP-MS系統(tǒng),對樣品的元素組成、元素分布進(jìn)行檢測??膳c市面上的普通四級桿質(zhì)譜儀、飛行時間質(zhì)譜儀和多接收質(zhì)譜儀等常見質(zhì)譜儀聯(lián)用。
二、技術(shù)優(yōu)勢:
Q開關(guān),短脈沖Nd:YAG激光器,擁有各種不同波長、不同能量的飛秒或納秒激光器,可根據(jù)您的實際應(yīng)用需求進(jìn)行選購;
創(chuàng)新的模塊化系統(tǒng)為獨(dú)立的LA,LIBS,或LA–LIBS復(fù)合系統(tǒng)的配置設(shè)計;
系統(tǒng)傳感器,確保激光剝蝕一致性:
高度自動調(diào)整技術(shù)
激光能量穩(wěn)定快門
雙攝像機(jī),一個于高倍成像,另一個用于樣品表面的廣角觀察;
應(yīng)用光譜Flex樣品室?guī)в锌苫Q鑲嵌模塊,以優(yōu)化運(yùn)輸氣體流量和顆粒沖刷性能;
緊湊型微集氣管設(shè)計,以消除脫氣和記憶效應(yīng);
雙路高精度數(shù)字質(zhì)量流量控制器和電子控制閥門;
系統(tǒng)軟件:
硬件部件的全面控制與測量自動化
多功能取樣方法:全分析、微區(qū)&夾雜物分析,深度分析和元素成像
用于LA-ICP-MS和LIBS分析的強(qiáng)大數(shù)據(jù)分析模塊
維護(hù)成本低;
升級為LA-LIBS復(fù)合系統(tǒng)簡單:
用于判別和分類分析的LIBS化學(xué)計量軟件
滿足不同分析要求的三種LIBS檢測器選項,LIBS可配置雙檢測器
可升級為飛秒激光剝蝕。
三、硬件特點(diǎn)
1、針對雙重LA/LIBS性能而設(shè)計的緊湊、模塊化系統(tǒng)
主體包括激光源、激光束傳輸光學(xué)器件、樣品室、氣體流量控制系統(tǒng)。
2、自動調(diào)整樣品高度,保證激光剝蝕的一致性
考慮到樣品表面的形態(tài)變化,采用自動調(diào)高傳感器??杀3志_的激光聚焦,在所有采樣點(diǎn)上提供相同的激光能量,并在所有采樣點(diǎn)上實現(xiàn)一致的激光剝蝕。
3、具有可互換鑲嵌模塊的Flex樣品室,以優(yōu)化氣流和微粒沖洗性能
根據(jù)測量目的(主要成分分析、包裹體分析、高分辨率深度分析、元素成像等),有必要對樣品室的各個性能指標(biāo)進(jìn)行優(yōu)化,指標(biāo)包括:沖洗時間、顆粒混合、樣品室內(nèi)的流動特性。Flex樣品室的設(shè)計能夠容納直徑為4英寸的樣品,使用一組可互換的頂部和底部鑲嵌塊來調(diào)節(jié)氣流條件(層流和紊流)和微粒沖洗時間。此外,F(xiàn)lex樣品室的設(shè)計是為等離子體光提供一個好的視角,從而保證在激光剝蝕過程中進(jìn)行靈敏的LIBS檢測。
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