測量原理
DIL 806采用了陰影光的方法。在該方法中，通過測量CCD探測器上樣品的陰影來測量一個方向上樣品的尺寸的大小。 高強度的GaN LED發(fā)出平面光，通過一個擴散單元和準直透鏡，產(chǎn)生高度均勻的、短波平面光。該光的一部分被樣品阻擋。有陰影的光束通過遠心光學系統(tǒng)進行精細處理，并由高分辨率的CCD探測器記錄。數(shù)字邊緣檢測自動確定陰影的寬度，進而測定樣品的尺寸。
測量的優(yōu)勢
DIL806測量本質(zhì)上是一個的測量，不受隨溫度程序變化的系統(tǒng)熱膨脹的影響。 只有樣品經(jīng)歷溫度的變化，光源和檢測器與這些變化相隔離。因此，測量是的，不需要進行頂桿式膨脹儀使用中常見的特定測試的校準。
爐體技術
DIL806采用了創(chuàng)新的板形爐，提供了的溫度均勻性和響應時間。樣品放置于寬平面加熱元件的中心，加熱元件的尺寸遠遠大于樣品，防止了在橫向方向上的溫度梯度。爐蓋內(nèi)有一個類似的加熱元件，位于樣品的正上方，可以zui大限度地減少垂直溫度梯度。爐體能夠提供100℃/min的快速加熱以及10分鐘內(nèi)從1400℃至50℃的冷卻時間。快速的加熱和冷卻速度，保證了樣品高通量以及溫度快速變化下過程的
表征。爐體的動態(tài)反應也使得DIL806特別適合儀器的控制軟件所支持的速率控制燒結(jié)實驗。自定義軟件包允許用戶定義一個目標的燒結(jié)(收縮)率。可根據(jù)樣品特性，通過增加或減小加熱速率實時調(diào)整溫度，以達到目標速率。
非接觸式測量的*性
非接觸式的測量系統(tǒng)提供了以下幾個優(yōu)點。因為沒有直接施加負載到樣品上，因此即便是zui柔軟的材料也可以獲得zui高的測量精度。包括薄膜，或質(zhì)地柔軟測量或在實驗過程中發(fā)生軟化的材料。由于與測量系統(tǒng)無物理接觸，進一步提高了溫度均勻性。頂桿可以作為散熱件，在與樣品接觸點處產(chǎn)生熱點或冷點。而DIL806是沒有這些接觸點的，確保了整個樣品在整個實驗過程中溫度的均勻，無需考慮實驗中的溫度分布。廣泛的測量面積大大簡化了樣品位置。儀器的測量面積，寬30毫米，在這個范圍內(nèi)的任何位置放置樣品，儀器均能表現(xiàn)出優(yōu)異的工作性能。這樣就簡化了樣品裝載，去除樣品位置的嚴格限制。
樣品類型
DIL806提供了zui大的靈活性的樣品類型和制樣。沒有推桿接觸，不再需要光滑或平行的樣品表面。不規(guī)則形狀的樣品可以很輕松的測量。薄膜樣品可以很容易的在其長度或?qū)挾确较蜻M行測量。對于不透明、半透明或透明的材料， DIL806均能獲得優(yōu)異的測量結(jié)果。也可以測量單個樣品在幾個方向上尺寸變化， 可以表征復合材料或者其他有取向性材料的各向異性的熱膨脹。因為DIL806可以使用多種樣品類型和形狀，因此它是對其他的測量的*補充?？墒褂肈IL806對其他測量方法(比如動態(tài)力學分析儀(DMA)、激光法測導熱、表面硬度密度或其他)的同一樣品進行測試。
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