Features & Benefits(性能及優(yōu)勢):
-
高分辨無損傷光學3D測量 自動傾斜補償
-
實時共焦成像 簡單的數(shù)據(jù)分析模式
-
多種光學變焦 雙Z掃描
大范圍拼接 半透明基材的特征檢測
-
實時CCD明場和共聚焦成像 無樣品準備
-
Software (軟件):
Application field(應用領域):
NS-3500是測量低維材料的有前途的解決方案。
可測量微米和亞微米結構的高度,寬度,角度,面積和體積,例如
-半導體:IC圖形,凹凸高度,線圈高度,缺陷檢測,CMP工藝
- FPD產(chǎn)品:觸摸屏屏幕檢測,ITO圖案,LCD柱間距高度
- MEMS器件:結構三維輪廓,表面粗糙度,MEMS圖形
-玻璃表面:薄膜太陽能電池,太陽能電池紋理,激光圖案
-材料研究:模具表面檢測,粗糙度,裂紋分析
所有評論僅代表網(wǎng)友意見,與本站立場無關。