尼通光譜儀XL5 Plus是一款新型的高性能 X 射線熒光（XRF）光譜分析儀，它的幾何結(jié)構(gòu)緊湊，又小又輕，同時具備石墨烯窗口的大面積硅漂移探測器和功能強大的5W X射線管，為苛刻的應用（如薄涂層測量）提供了優(yōu)良的靈敏度。
此前，XL5光譜儀已廣泛應用于化學涂層生產(chǎn)商、汽車企業(yè)以及許多工業(yè)企業(yè)中?？梢詫︿X合金、冷軋鋼（CRS）、電鍍鋅（EG）和熱浸鍍鋅鋼（HDG）等基材上的鋯和鈦涂層進行質(zhì)量控制。具備強大的基本參數(shù)算法，可以為此類應用提供更加簡便的工作流程。
非標涂層模式可準確確定純金屬、合金、塑料或木材各種基底上4層涂層的厚度。檢測合金（如鋼或鋁合金）上的鈦和鋯轉(zhuǎn)化鍍層的涂層厚度也十分輕松。不僅如此，儀器操作簡單，用戶開機即可使用，無需校準，也無需接受復雜的技術(shù)培訓。
適合檢測現(xiàn)代轉(zhuǎn)化膜，測量的Zr 和 Ti 在鋼、鍍鋅鋼或鋁合金等不同基體上的預期值和測量值之間取得了良好的相關(guān)性和一致性。與尼通XL3t手持式光譜儀的經(jīng)驗校準法相比，基本參數(shù)模式更易于使用，更靈活，并且不需要許多參考樣品。無需標準樣品進行校準，僅使用每種涂層類型的少量樣品進行檢測，即可獲得準確數(shù)據(jù)。如果需要更高精度，用戶可以微調(diào)分析儀的配置曲線，達到更好準確度。
尼通光譜儀XL5 Plus是汽車和金屬表面處理行業(yè)中控制 Zr 和Ti 轉(zhuǎn)化鍍膜的涂層厚度的理想設(shè)備。可以快速獲得投資回報：
1.提高生產(chǎn)力。在幾秒鐘內(nèi)實時顯示測量的涂層厚度。在涂層過程中實現(xiàn)及時控制，輔助在成品或半成品的質(zhì)量控制中快速作出決策。
2.具有較低的初始投資和較低的運營成本，而分析性能可與實驗室儀器相匹配。
3.易于使用。方法開發(fā)和操作不需要實驗室人員即可完成。
4.無損分析。分析儀接觸樣品表面不會造成損傷。手持式設(shè)計可以直接在成品上進行測量，無需切割樣品將其帶到實驗室。
5.用途廣泛。不僅可以用于涂層測量，還可用于確定非涂層材料（如鋁合金）的合金牌號等。
尼通光譜儀的易用性和耐用性使其成為理想的鍍層檢測工具，用于在車間對零部件的進貨檢驗，以及對工藝和質(zhì)量控制。校準軟件的通用性也可實現(xiàn)鍍液分析（單一和多元素），保證了鍍液成分的快速監(jiān)測。幾秒鐘就可以測試出結(jié)果，現(xiàn)場即可判定一個部件是否合格或是否需要修改電鍍工藝，大大提高生產(chǎn)力，并節(jié)約了成本。
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