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牛津儀器OXFORD CMI 243 E便攜金屬鍍層測厚儀，ECP-M探頭，200 SERIES產(chǎn)品介紹：
牛津CMI243電鍍層測厚儀測量黑色金屬底材上的金屬鍍層厚度
牛津儀器OXFORD CMI 243 E便攜金屬鍍層測厚儀集測量、價格合理、質(zhì)量可靠的優(yōu)勢于一體的式測厚儀

牛津儀器OXFORD CMI 243 E便攜金屬鍍層測厚儀的特點：
CMI243便攜金屬鍍層測厚儀是一款靈便、易用的儀器，專為金屬表面處理者設計。配置的單探頭可測量鐵質(zhì)底材上金屬鍍層 - 即使在小的、形狀的或表面粗糙的樣品上都可以進行測量。這款測厚儀是緊固件行業(yè)應用的工具。采用基于相位的電渦流技術，CMI243式測厚儀易于用戶控制，并且可以同X射線熒光測厚儀的準確性和精密性媲美。為了讓客戶能以低成本購買，CMI243免去了對多探頭、操作培訓和持續(xù)保養(yǎng)的需要。牛津儀器公司提供可靠的高品質(zhì)產(chǎn)品，并擁有快速響應的客戶服務團隊。更為的是，這款側(cè)厚儀可享一年保修期。

測量技術
一般的測試方法，例如一般測厚儀制造商所采用的普通磁感應和渦流方式，由于探頭的" 升離效應" 導致的底材效應，和由于測試件形狀和結(jié)構(gòu)導致的干擾，都無法達到對金屬性鍍層厚度的測量。而牛津儀器將新的基于相位的電渦流技術應用到CMI243，使其達到了±3%以內(nèi)（對比標準片）的準確度和0.3% 以內(nèi)的度。牛津儀器對電渦流技術的特應用，將底材效應小化，使得測量精準且不受零件的幾何形狀影響。另外，儀器一般不需要在鐵質(zhì)底材上進行校準。

的ECP-M探頭
ECP-M探頭專為較難測量的金屬覆層設計，此單探頭可以測量鐵質(zhì)底材上金屬覆層，例如鋅、鎳、銅、鉻和鎘。更小的探針為小的、形狀的或表面粗糙的零件提供了便捷的測量。

牛津儀器OXFORD CMI 243 E便攜金屬鍍層測厚儀基本配置包括：
? ECP-M探頭及拆除指南
? RS232串行電纜
? 校準用鐵上鍍鋅標準片組
? 可單選購SMTP-1(磁感應探頭)

牛津儀器OXFORD CMI 243 E便攜金屬鍍層測厚儀規(guī)格：
準確度：相對標準片±3%
度：0.3%
分辨率：0.01mils (0.1μm)
電渦流：遵循DIN50984, BS5411 Part 3, ISO 2360, ISO 21968草案, ASTM B499, 及ASTM E376
存儲量：26,500 條存儲讀數(shù)
尺寸：5 7/8" (長) x 3 1/8" (寬) x 1 3/16" (高)
(14.9 x 7.94 x 3.02 cm)
重量：9 oz (0.26 kg) 包括電池
單位：通過一個按鍵實現(xiàn)英制和公制的自動轉(zhuǎn)換
接口：RS-232串行接口，波特率可調(diào)，用于下載至打印機或計算機
顯示屏：三位數(shù)LCD液晶顯示，字體1/2英寸（1.27厘米）高
電池：9伏堿性電池
電池壽命：65小時連續(xù)使用