量子效率測(cè)量系統(tǒng)是為晶體硅太陽(yáng)能電池IQE內(nèi)量子效率測(cè)量分析設(shè)計(jì)的內(nèi)外量子效率測(cè)試測(cè)量系統(tǒng),也可以測(cè)量EQE外量子效率和光譜反射。
量子效率測(cè)量系統(tǒng)特點(diǎn)
太陽(yáng)能電池可被不同光照射,光斑可達(dá)20x20mm,也可聚焦成1x3mm
全面積外量子效率EQE和反射率測(cè)量,可以通過(guò)移動(dòng)4cm^2的照明面積而實(shí)現(xiàn)
280-1600nm范圍可輸出單色光,配備有高精度單色儀,波長(zhǎng)精度1nm, FWHM為8nm
BIAS-RAMP用于自動(dòng)探測(cè)校正BIAS光密度,用于準(zhǔn)EQE量子效率測(cè)量
反射率測(cè)量采用8度傾斜光束,光束面積2x 2cm^2,配有BaSO4涂層積分球
具有批量測(cè)量模式
太陽(yáng)能電池由溫控真空卡盤(pán)支撐,具有XYZ三軸位移功能
自動(dòng)校準(zhǔn)EQE外量子效率和反射率
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