射頻導納物位計的測量
對一個強導電性被測介質的容器，(射頻導納物位計)由于被測介質是導電的，接地點可以被認為在探頭絕緣層的表面，對變送器來說僅表現(xiàn)為一個純電容。隨著容器排料，探桿上產生掛料，而掛料是具有阻抗的。這樣以前的純電容現(xiàn)在變成了由電容和電阻組成的復阻抗，從而引起兩個問題。
**個問題是液位本身對探頭相當于一個電容，(射頻導納物位計)它不消耗變送器的能量，（純電容不耗能）。但掛料對探頭等效電路中含有電阻，則掛料的阻抗會消耗能量，從而將振蕩器電壓拉下來，導致橋路輸出改變，產生測量誤差。我們在振蕩器與電橋之間增加了一個緩沖放大器，使消耗的能量得到補充，因而不會降低加在探頭的振蕩電壓。
**個問題是對于導電被測介質，探頭絕緣層表面的接地點覆蓋了整個被測介質及掛料區(qū)，使有效測量電容擴展到掛料的頂端。這樣便產生掛料誤差，且導電性越強誤差越大。但任何被測介質都不是導電的。從電學角度來看，掛料層相當于一個電阻，傳感元件被掛料覆蓋的部分相當于一條由無數(shù)個無窮小的電容和電阻元件組成的傳輸線。根據(jù)數(shù)學理論，如果掛料足夠長，則掛料的電容和電阻部分的阻抗相等。因此根據(jù)對掛料阻抗所產生的誤差研究，又增加一個交流驅動器電路。該電路與交流變換器或同步檢測器一起就可以分別測量電容和電阻。由于掛料的阻抗和容抗相等，則測得的總電容相當于C+C掛料，再減去與C 掛料相等的電阻R，就可以實際測量真實值，從而排除掛料的影響。
即C測量=C+C掛料
C=C測量—C掛料
=C測量— R
這些，多參量的測量，是必須得基礎，交流鑒相采樣器是實現(xiàn)的手段。由于使用了上述三項技術，使得射頻導納技術在現(xiàn)場應用中展現(xiàn)出非凡的生命力。
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