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Leica DCM8將高清晰度共聚焦顯微鏡和干涉測量法融合在一臺儀器中
徠卡顯微系統(tǒng)發(fā)布用于無損三維表面輪廓形成的Leica DCM8。該儀器融合了共聚焦和干涉光學測量儀,因此具有這兩種技術(shù)的*性:用于高橫向分辨率和干涉法的高清晰度共聚焦顯微鏡,可獲得亞納米級的垂直分辨率。這兩種技術(shù)對于在各種不同的研究和產(chǎn)品環(huán)境下,進行材料和零部件的表面分析都非常重要。由帶有高坡區(qū)域的錯綜復雜的結(jié)構(gòu)制成的表面,要求數(shù)微米的橫向分辨率。與之相反,帶有臨界微型峰和谷的拋光超平滑表面,則要求納米尺度的縱向分辨率。
Leica DCM8可以滿足用戶對比表面積測量的具體要求——共聚焦顯微鏡可使橫向分辨率高達140nm,輔之以干涉測量法,垂直分辨率可高達0.1nm。產(chǎn)品管理團隊行業(yè)的團隊人——Stefan Motyka說:“ Leica DCM8是一種通用的、準確的測量器,可以節(jié)省時間和成本:用戶不必交換儀器,就可以利用共聚焦和干涉測量技術(shù),觀察和測量同一樣品——他們只需要一臺儀器。另外,顯微鏡的用戶友好的設(shè)置和操作,可以省時省力,非??焖佟⒎奖愕靥峁┚珳实慕Y(jié)果。”
為了獲得高分辨率和高速度, Leica DCM8采用了共聚焦掃描技術(shù),無需移動傳感頭中的部件,從而提高了可重復性和穩(wěn)定性。只需點擊鼠標,即可在兩種技術(shù)之間快速、簡單地切換。
瑞士溫特圖爾IMPE的Christof Scherrer說:“我們之所以決定購買 Leica DCM8系統(tǒng),是因為它可以用作光學顯微鏡,帶有明場、暗場和共聚焦以及三種干涉模式。對于像我們這樣的材料科學方面多元化的研究工作來說,靈活性是一項重要因素。”
除了使用不同技術(shù)用于觀察和分析之外, Leica DCM8還是一種用于樣品的精確色彩存檔的理想儀器。高品質(zhì)徠卡物鏡以及四個LED光源的多種選擇——藍色(460nm)、綠色(530nm)、紅色(630nm)和白色(中心550nm)——以及一個集成的CCD相機,提供逼真的彩色圖像。相機具有很大的視場——如果這還不夠,可以選擇XY地形拼接模式,以獲得較大面積的無縫、精確模型。直觀的軟件可以使用戶簡化復雜的3D和2D分析,完成符合具體需求的配置。
Leica DCM8是一種3D表面測量顯微鏡,將共聚焦顯微鏡和干涉測量法融合在一臺儀器中。
Leica DCM8無需交換儀器,即可同時提供共聚焦和干涉測量技術(shù)。