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四探針探頭 訂購指南

2023年02月16日 14:10:53      來源：北京恒奧德科技有限公司 >> 進入該公司展臺      閱讀量：20

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四探針探頭是一種專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。

四探針探頭 探頭 型號：GSZ-HP-501


四探針探頭是一種專門測量半導體薄層電阻（面電阻）的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。

◆ 特性及規(guī)格：

1

 特制之手握式探筆

2

 球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜不被損傷

3

 探頭帶抗靜電模塊有效防止方塊電阻測試儀采集數(shù)據(jù)集成模塊燒壞

4

 探頭使用壽命長

5

 探針間距：1mmm、1.59mm、3.8m；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ

型號
（Model）

曲率半徑
（Radius）

壓力
（loads）

探針間距
（spacing）

探針排列
（Arrangement）

GSZ-HP-501

0.5mm

100g

3.8mm

直線

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