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1、什么是特性阻抗

特性阻抗是傳輸線理論里面的一個(gè)概念，由傳輸線的材料和幾何結(jié)構(gòu)所確定。特性阻抗指的是信號(hào)沿傳輸線傳播時(shí)信號(hào)路徑與返回路徑之間的電壓與等效電流之間的比值。與直流電阻有所不同，特性阻抗反映的是傳輸線信號(hào)路徑與返回路徑之間電場(chǎng)建立過(guò)程的阻礙作用，因此只有傳播高頻信號(hào)的傳輸線討論特性阻抗才有意義。

2、什么情況下需要測(cè)量特性阻抗

一般認(rèn)為，導(dǎo)線的長(zhǎng)度大于傳輸信號(hào)波長(zhǎng)的1/7時(shí)可視為傳輸線，需要考慮特性阻抗的影響。如果想要傳播的信號(hào)頻率是1GHz，相對(duì)介電常數(shù)是2.25，對(duì)應(yīng)的波長(zhǎng)則是20cm，如果導(dǎo)線的長(zhǎng)度大于2.86cm，就要按照傳輸線的理論來(lái)分析，需要測(cè)量特性阻抗。

特性阻抗不是越大越小，也不是越小越好，而是越匹配越好，即接收端的特性阻抗應(yīng)當(dāng)與發(fā)送端的特性阻抗越接近越好，這樣信號(hào)的反射才越小小，二者相差越大信號(hào)反射越大，接收端收到的信號(hào)失真越大，就可能出現(xiàn)誤碼，比如LVDS的顯示屏線，如果阻抗不匹配，就很容易在屏幕上出現(xiàn)雪花點(diǎn)。

源興光學(xué)阻抗測(cè)試儀適用于對(duì)電子產(chǎn)品中的制造單位在常態(tài)下及環(huán)境試驗(yàn)條件下，對(duì)各型電路板或功能模塊（多個(gè)電路板組成的具有一定功能的電氣單元）的輸出插頭座中的任意引腳之間及任意引腳與殼體之間的靜態(tài)、動(dòng)態(tài)阻抗參數(shù)進(jìn)行快速檢驗(yàn)、測(cè)試、分析的場(chǎng)合使用。

二、工作原理

東莞源興光學(xué)阻抗測(cè)試儀（特指TDR阻抗測(cè)試儀，而非LCR表類(lèi)儀器）是基于TDR時(shí)域反射技術(shù)實(shí)現(xiàn)的特性阻抗專(zhuān)用測(cè)試儀器。阻抗測(cè)試儀是根據(jù)發(fā)射信號(hào)在被測(cè)件處的反射情況來(lái)計(jì)算被測(cè)件參數(shù)的，與雷達(dá)類(lèi)似。具體描述為：皮秒脈沖發(fā)生器產(chǎn)生極快上升沿的高速階躍信號(hào)，并通過(guò)高頻電纜、探針傳播到被測(cè)件上。該信號(hào)在沿被測(cè)件傳播的過(guò)程中，當(dāng)遇到開(kāi)路、短路及阻抗不連續(xù)點(diǎn)時(shí)，會(huì)在阻抗變化處產(chǎn)生不同程度的反射。反射信號(hào)會(huì)逆向往回傳播，通過(guò)寬帶微波樣器對(duì)該反射信號(hào)進(jìn)行采樣，可以獲得反射電壓的信息。對(duì)反射信息進(jìn)行處理及分析后可以得到反射點(diǎn)的特性阻抗值和位置信息，并以可視化的波形顯示出來(lái)。反射點(diǎn)位置精度可達(dá)毫米級(jí)別。

三、測(cè)試功能

1.阻抗測(cè)試

測(cè)試儀可快速測(cè)出各型電路板或功能模塊的輸出插頭座中的任意引腳之間及任意引腳與殼體之間的阻抗值。

2.短路測(cè)試

測(cè)試儀可快速測(cè)出各型電路板或功能模塊的輸出插頭座中的任意引腳之間及任意引腳與殼體之間是否存在短路（靜態(tài)阻抗小于10Ω）。

3.激勵(lì)源選擇

測(cè)試儀具有交、直流信號(hào)激勵(lì)源選擇功能，根據(jù)測(cè)試需要選擇采用交流或直流信號(hào)作為測(cè)試激勵(lì)源。

4.屏蔽點(diǎn)功能

測(cè)試儀可屏蔽各型電路板或功能模塊中任意不需測(cè)量的引腳,對(duì)已屏蔽的引腳不加電,提高測(cè)試的安全性。

5.單點(diǎn)循跡功能

采用單點(diǎn)測(cè)試筆接觸電路板或功能模塊中的任一焊點(diǎn)，即可快速測(cè)量單點(diǎn)測(cè)試筆與被測(cè)件插頭座中任一引腳之間的阻抗，快速判斷器件或電路的狀態(tài)；也可連接兩只單點(diǎn)測(cè)試筆，測(cè)量任意兩支筆接觸的器件引腳或焊點(diǎn)之間的阻抗值。

6.單點(diǎn)（語(yǔ)音提示）測(cè)試功能

在進(jìn)行單點(diǎn)測(cè)試時(shí)可選擇給出聲音提示，減輕操作者的工作強(qiáng)度，提高了測(cè)試效率。

7.查分線測(cè)試功能

在導(dǎo)通測(cè)試模式下，測(cè)試儀具有查線、分線、短路功能。

8.測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)建立

采用自學(xué)習(xí)方式，對(duì)已確認(rèn)完好的各型電路板或功能模塊進(jìn)行測(cè)試,將測(cè)試數(shù)據(jù)結(jié)果保存即可建立測(cè)試數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)。

9.自檢功能

測(cè)試儀可快速對(duì)開(kāi)關(guān)通路是否正常進(jìn)行自檢；對(duì)各項(xiàng)測(cè)試功能及精度進(jìn)行自檢，并形成自檢報(bào)告。

10.參數(shù)設(shè)置功能

測(cè)試儀具有參數(shù)設(shè)置功能如：測(cè)試點(diǎn)數(shù)（芯數(shù)）、電阻門(mén)限標(biāo)準(zhǔn)、激勵(lì)源參數(shù)等。

11.保護(hù)報(bào)警

測(cè)試儀具有自檢測(cè)試異?；驕y(cè)試結(jié)果異常的保護(hù)報(bào)警功能，并給出聲、光報(bào)警信號(hào)，形成出錯(cuò)信息表。

12.計(jì)量校準(zhǔn)

當(dāng)測(cè)試儀出現(xiàn)測(cè)量誤差或需要定期計(jì)量、校驗(yàn)時(shí)，可進(jìn)行校準(zhǔn)。

13.輔助功能

幫助：在測(cè)試畫(huà)面的標(biāo)題欄中設(shè)置“幫助”信息欄，顯示幫助信息易于學(xué)習(xí)掌握。

顯示：以表格及圖形（曲線）方式直觀、詳細(xì)的顯示測(cè)試數(shù)據(jù)。

保存：測(cè)試數(shù)據(jù)可根據(jù)需要保存、導(dǎo)出到目錄，也可輸出打印。

查詢：可按索引條目查詢測(cè)試結(jié)果。

14.數(shù)據(jù)通信

測(cè)試儀設(shè)置有網(wǎng)絡(luò)端口，可以連接外部計(jì)算機(jī)，實(shí)現(xiàn)局域網(wǎng)的數(shù)據(jù)交互。