光學(xué)顯微鏡法測(cè)粉末粒度值的范圍
光學(xué)顯微鏡的分辨能力,在理想情況下可達(dá)到0.2微米,它和光源的波長(zhǎng),透鏡的數(shù)值孔徑有關(guān)。但在實(shí)際應(yīng)用中,光學(xué)顯微鏡的粒度測(cè)量范圍是0.8~150微米,再小的粉末粒度唯有電子顯微鏡等方法才能觀察和測(cè)定。
光學(xué)顯微鏡法測(cè)粉末粒度的方法
由于反射光工作的光學(xué)顯微鏡僅能測(cè)量粒度大于5微米顆粒物質(zhì),因此粒度分析一般采用透射光工作的顯微鏡。為了計(jì)算顆粒的大小,在顯微鏡目鏡上配有顯微刻度尺,刻度尺使用前事先都應(yīng)校準(zhǔn)。
常用于分析的顯微刻度尺有三種:
(1)帶十字線的直線刻度尺;
(2)網(wǎng)絡(luò)顯微刻度尺;
(3)花樣顯微刻度尺。
顯微鏡法測(cè)粉末粒度的原理和優(yōu)缺點(diǎn)
顯微鏡法測(cè)量的是顆粒的表現(xiàn)粒度,即顆粒的投影尺寸。對(duì)稱性好的球形顆粒(如霧化粉)或立方體顆粒可直接按直徑或長(zhǎng)度計(jì)算。但對(duì)于非球形的不規(guī)則顆粒,不能用直接計(jì)
算的方法,必須考慮到不同的表示方法。
顯微鏡法的缺點(diǎn)是操作繁瑣且費(fèi)力。