LID光熱偏轉(zhuǎn)技術(shù)弱吸收儀采用光熱偏轉(zhuǎn)技術(shù),用于測量透明光學(xué)材料及鍍膜產(chǎn)品受到激光照射后產(chǎn)生的微弱吸收。在強(qiáng)激光照射下,材料內(nèi)部由于吸收熱能產(chǎn)生折射率梯度現(xiàn)象(熱透鏡效應(yīng)),當(dāng)一束探測光經(jīng)過“熱透鏡"效應(yīng)區(qū)域時(shí)發(fā)生位置偏移,通過PSD位移傳感器測量其位置偏移量。
LID光熱偏轉(zhuǎn)技術(shù)
弱吸收儀測量意義
在高功率激光系統(tǒng)中,光學(xué)鏡片的膜層及體材料吸收較大的話會引起以下熱透鏡效應(yīng)進(jìn)而產(chǎn)生一系列問題:
1.如下圖所示的焦距發(fā)生變化
2.波前畸變
3.退偏
4.膜層吸收是影響薄膜損傷閾值 的一個(gè)重要指標(biāo)
此系統(tǒng)采用光熱偏轉(zhuǎn)技術(shù),用于測量透明光學(xué)材料及鍍膜產(chǎn)品受到激光照射后產(chǎn)生的微弱吸收。在強(qiáng)激光照射下,材料內(nèi)部由于吸收熱能產(chǎn)生折射率梯度現(xiàn)象(熱透鏡效應(yīng)),當(dāng)一束探測光經(jīng)過“熱透鏡"效應(yīng)區(qū)域時(shí)發(fā)生位置偏移,通過PSD位移傳感器測量其位置偏移量。