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蔡司場發(fā)射掃描電子顯微鏡 Sigma系列
[ 產(chǎn)品簡介 ]
蔡司新一代蔡司場發(fā)射掃描電子顯微鏡,具有高質(zhì)量的成像和分析能力,將先進的場發(fā)射掃描電子顯微鏡技術(shù)與優(yōu)秀的用戶體驗結(jié)合。利用Sigma系列直觀的4步工作流程,在更短的時間內(nèi)獲得更多的數(shù)據(jù),提高測試與生產(chǎn)效率??蛇x配多種探測器,以滿足半導(dǎo)體、能源等新材料、磁性樣品、生物樣品、地質(zhì)樣品等不同的應(yīng)用需求。結(jié)合蔡司原位電鏡實驗平臺,可以實現(xiàn)自動智能化的原位實驗工作流程,高效率獲取高通量、高質(zhì)量的原位實驗數(shù)據(jù)。EDS幾何設(shè)計保證了出色的元素分析性能,分析速度高、精度好、結(jié)果可靠。高分辨、全分析、多擴展、強智能、廣應(yīng)用,全新Sigma系列是助力于材料研究、生命科學(xué)和工業(yè)檢測等領(lǐng)域的“多面手”。
[ 產(chǎn)品特點 ]
ü Gemini鏡筒設(shè)計,低電壓高分辨,無漏磁;
ü 廣泛全面的應(yīng)用場景;
ü 豐富靈活的探測手段;
ü 智能高效的工作流程;
ü 先進可靠的分析系統(tǒng);
ü 強大完善的擴展平臺;
[ 應(yīng)用領(lǐng)域 ]
ü 材料科學(xué),如納米材料高分辨成像,高分子聚合物等不導(dǎo)電樣品成像,電池材料成分襯度成像,二維材料分析;
ü 生命科學(xué),如生物樣品超微結(jié)構(gòu)成像,冷凍樣品高分辨成像;
ü 地質(zhì)礦物學(xué),如地質(zhì)樣品高分辨成像、成分分析以及原位拉曼聯(lián)用分析;
ü 工業(yè)應(yīng)用,如組件失效分析,工藝診斷;
ü電子半導(dǎo)體行業(yè),如質(zhì)量控制與分析,6英寸Wafer快速換樣,電子束曝光技術(shù)(EBL);
ü鋼鐵行業(yè),如夾雜物分析,金屬材料自動原位成像分析;
ü刑偵、法醫(yī)學(xué);
ü 考古學(xué)、文物保護與修復(fù);