Nicomp 380DLS亞微米粒徑檢測(cè)儀是一種精密的儀器,能夠檢測(cè)尺寸在亞微米級(jí)別的微小顆粒。工作原理主要基于光學(xué)、電學(xué)或機(jī)械原理。其中,光學(xué)原理是常用的方法之一。以基于光學(xué)原理的亞微米粒徑檢測(cè)儀為例,其工作原理是利用激光束對(duì)微粒子進(jìn)行照射,微粒子會(huì)散射光線,形成散射光圖像。通過(guò)測(cè)量散射光的強(qiáng)度和分布,可以推算出顆粒的粒徑分布。
高精度測(cè)量:亞微米粒徑檢測(cè)儀能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)微小顆粒的高精度測(cè)量,滿足科研和工業(yè)領(lǐng)域?qū)︻w粒粒徑的嚴(yán)格要求。
多參數(shù)測(cè)量:除了粒徑分布外,部分亞微米粒徑檢測(cè)儀還可以同時(shí)測(cè)量顆粒的形狀、濃度等參數(shù),提供全面的顆粒信息。
操作簡(jiǎn)便:現(xiàn)代亞微米粒徑檢測(cè)儀通常配備有先進(jìn)的測(cè)試軟件和用戶界面,使得操作更加簡(jiǎn)便快捷。
適用范圍廣:亞微米粒徑檢測(cè)儀可用于檢測(cè)各種類型的微小顆粒,包括固體顆粒、液體中的懸浮顆粒以及氣體中的顆粒物等。