Nicomp 380DLS亞微米粒徑檢測儀是一種精密的儀器，能夠檢測尺寸在亞微米級別的微小顆粒。工作原理主要基于光學、電學或機械原理。其中，光學原理是常用的方法之一。以基于光學原理的亞微米粒徑檢測儀為例，其工作原理是利用激光束對微粒子進行照射，微粒子會散射光線，形成散射光圖像。通過測量散射光的強度和分布，可以推算出顆粒的粒徑分布。
高精度測量：亞微米粒徑檢測儀能夠?qū)崿F(xiàn)對微小顆粒的高精度測量，滿足科研和工業(yè)領(lǐng)域?qū)︻w粒粒徑的嚴格要求。
多參數(shù)測量：除了粒徑分布外，部分亞微米粒徑檢測儀還可以同時測量顆粒的形狀、濃度等參數(shù)，提供全面的顆粒信息。
操作簡便：現(xiàn)代亞微米粒徑檢測儀通常配備有先進的測試軟件和用戶界面，使得操作更加簡便快捷。
適用范圍廣：亞微米粒徑檢測儀可用于檢測各種類型的微小顆粒，包括固體顆粒、液體中的懸浮顆粒以及氣體中的顆粒物等。
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