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Nicomp 380DLS 亞微米粒徑檢測儀的優(yōu)勢

2025年03月06日 13:05:49      來源:智造先鋒 >> 進入該公司展臺      閱讀量:14

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Nicomp 380DLS亞微米粒徑檢測儀是一種精密的儀器,能夠檢測尺寸在亞微米級別的微小顆粒。工作原理主要基于光學、電學或機械原理。其中,光學原理是常用的方法之一。以基于光學原理的亞微米粒徑檢測儀為例,其工作原理是利用激光束對微粒子進行照射,微粒子會散射光線,形成散射光圖像。通過測量散射光的強度和分布,可以推算出顆粒的粒徑分布。
Nicomp 380DLS亞微米粒徑檢測儀的特點與優(yōu)勢:
高精度測量:亞微米粒徑檢測儀能夠?qū)崿F(xiàn)對微小顆粒的高精度測量,滿足科研和工業(yè)領(lǐng)域?qū)︻w粒粒徑的嚴格要求。
多參數(shù)測量:除了粒徑分布外,部分亞微米粒徑檢測儀還可以同時測量顆粒的形狀、濃度等參數(shù),提供全面的顆粒信息。
操作簡便:現(xiàn)代亞微米粒徑檢測儀通常配備有先進的測試軟件和用戶界面,使得操作更加簡便快捷。
適用范圍廣:亞微米粒徑檢測儀可用于檢測各種類型的微小顆粒,包括固體顆粒、液體中的懸浮顆粒以及氣體中的顆粒物等。
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