光纖微裂紋檢測儀OLI是一款低成本高精度光學(xué)鏈路診斷系統(tǒng)。其原理基于光學(xué)相干檢測技術(shù)，利用白光的低相干性可實(shí)現(xiàn)光纖鏈路或光學(xué)器件的微損傷檢測。通過讀取最終干涉曲線的峰值大小，精確測量整個(gè)掃描范圍內(nèi)的回波損耗，進(jìn)而判斷此測量范圍內(nèi)鏈路的性能。
該系統(tǒng)輕松查找并精準(zhǔn)定位器件內(nèi)部斷點(diǎn)、微損傷點(diǎn)以及鏈路連接點(diǎn)。其事件點(diǎn)定位精度高達(dá)幾十微米，可探測到-80dB光學(xué)弱信號，廣泛用于光纖或光器件損傷檢測以及產(chǎn)品批量出貨合格判定。
應(yīng)用：
1.光纖微裂紋檢測。
2.產(chǎn)線自動(dòng)化檢測。
3.FA光纖陣列鏈路性能檢測。
4.硅光芯片、PLC波導(dǎo)瑕疵損耗檢測。
5.光器件、光模塊內(nèi)部耦合點(diǎn)、連接點(diǎn)性能檢測。
1.可定制掃描測量長度。
2.支持多通道測量升級。
3.高采樣分辨率和定位精度。
4.可定制引纖長度，便于匹配實(shí)際測量環(huán)境。
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