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德國Instrument Systems(IS) TOP 200 光學(xué)探頭 輻射亮度測量探頭

產(chǎn)品二維碼
參   考   價(jià): 18
訂  貨  量: ≥1臺(tái)
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 產(chǎn)品型號(hào):TOP 200
  • 品牌:
  • 產(chǎn)品類別:測試探頭/套件/分類
  • 所在地:
  • 信息完整度:
  • 樣本:
  • 更新時(shí)間:2022-11-03 10:52:34
  • 瀏覽次數(shù):29

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北京菁美瑞科技有限公司

其他

  • 經(jīng)營模式:其他
  • 商鋪產(chǎn)品:414條
  • 所在地區(qū):
  • 注冊時(shí)間:2015-06-16
  • 最近登錄:2022-11-03
  • 聯(lián)系人:張總
產(chǎn)品簡介

德國InstrumentSystems(IS)TOP200光學(xué)探頭輻射亮度測量探頭TOP200–用于輻射和亮度測量的光學(xué)探頭TOP200光學(xué)探頭基于普里查德式光學(xué)設(shè)計(jì),帶有集成式取景相機(jī)

詳情介紹

德國Instrument Systems(IS) TOP 200 光學(xué)探頭 輻射亮度測量探頭


TOP 200 –用于輻射和亮度測量的光學(xué)探頭

TOP 200 光學(xué)探頭基于普里查德式光學(xué)設(shè)計(jì),帶有集成式取景相機(jī)。

產(chǎn)品特長:

  • 普里查德式光學(xué)設(shè)計(jì)配有傾斜度僅 15o 的孔鏡,可以提供非常圓的清晰圖像點(diǎn)

  • 光纖的靈活連接和獲取可重現(xiàn)讀數(shù)的ZL模式混合器,以及極低的偏振靈敏度

  • 可通過軟件選擇的 6 種測量點(diǎn)大小

  • 具有寬視場的內(nèi)部取景相機(jī)

  • 最小的測量點(diǎn):80 µm

  • 測試對象的可選照明

50 是具有單孔徑的低成本替代產(chǎn)品。

測量應(yīng)用

測得的輻射強(qiáng)度由 TOP 200 通過多模光纖耦合到光譜儀中。Instrument Systems 的ZL模式混合器可確保光纖中的光透射均勻,即使光纖位置改變,也可產(chǎn)生可重現(xiàn)讀數(shù)。

普里查德原則支持在測量過程中觀察視場,并監(jiān)控視場進(jìn)行準(zhǔn)確定位。取景相機(jī)的圖像由 SpecWin Pro 軟件自動(dòng)導(dǎo)入并與讀數(shù)一起保存。

產(chǎn)品類型

型號(hào)

描述

基本規(guī)格和光纖

TOP200-100

光學(xué)探頭的基本規(guī)格,帶多模光纖和光纖束連接器 (無鏡頭和光纖)

TOP200-203

帶模式混合器和 PLG 適配器的多模光纖(長度為 2.3 mm); 300–2200 nm

TOP200-204

帶模式混合器和 PLG 適配器的 UV 多模光纖(長度為 2.3 mm); 190–1350 nm

50-100

基于Pritchard光學(xué)原理的基本伸縮光學(xué)探頭,具有單光圈和集成取景器攝像頭(不含鏡頭和光纖)

鏡頭和微距鏡頭

00-308

定焦鏡頭 28 mm;F/2,8; 370-1100 nm

00-311

定焦鏡頭 60 mm;F/2,8; 370-1100 nm

00-322

定焦鏡頭 105 mm; F/4,8; 200–800 nm

德國Instrument Systems TOP 200 光學(xué)探頭/輻射亮度測量探頭/光譜儀配件



用于輻射和亮度測量的一體化系統(tǒng) DTS140D NVIS 通常包含以下部件:

部件描述

光譜儀

CAS 140D 光譜范圍為 380-1040 nm 的 CAS 140D153U1I (VIS-NIR)。

光學(xué)探頭和鏡頭

用于 4 種測量點(diǎn)大小的帶機(jī)動(dòng)孔徑輪的 TOP 200 光學(xué)探頭,具有 752 x 480 像素分辨率的集成式校準(zhǔn)攝像頭和 HRL90 鏡頭。提供更多焦距選擇。

校準(zhǔn)

光譜輻射和亮度校準(zhǔn),可追溯至國家標(biāo)準(zhǔn) PTB 或 NIST。包括 MIL 證書。

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