簡(jiǎn)單介紹
S916介質(zhì)損耗測(cè)試裝置與本公司生產(chǎn)的各款WGJSTD系列介質(zhì)損耗及介電常數(shù)測(cè)試儀配套，可用于測(cè)量絕緣材料的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗系數(shù)（損耗角正切值）。S916介質(zhì)損耗測(cè)試裝置是S914的換代產(chǎn)品，它采用了數(shù)顯微測(cè)量裝置，因而讀數(shù)方便，數(shù)據(jù)**。
S916介質(zhì)損耗及介電常數(shù)測(cè)試裝置的詳細(xì)介紹
測(cè)試裝置由一個(gè)LCD數(shù)字顯示微測(cè)量裝置和一對(duì)間距可調(diào)的平板電容器極片組成。平板電容器極片用于夾持被測(cè)材料樣品，微測(cè)量裝置則顯示被測(cè)材料樣品的厚度。S916介質(zhì)損耗測(cè)試裝置須配用WGJSTD系列儀器作為調(diào)諧指示儀器，通過(guò)被測(cè)材料樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)樣品時(shí)的品質(zhì)因數(shù)值即Q值的變化，測(cè)得絕緣材料的損耗角正切值。從平板電容器平板間距的讀值變化則可換算得到絕緣材料介電常數(shù)。
技術(shù)特性
1. 平板電容器：
極片尺寸：Φ
極片間距可調(diào)范圍：≥
2. 夾具插頭間距：
3. 夾具損耗正切值≤4×10－4 （1MHz）
4．測(cè)微桿分辨率：0.001mm
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