技術(shù)資料：
FJ1200環(huán)境級(jí)X、γ輻射測(cè)量?jī)x主要用于環(huán)境輻射本底以及低水平X、γ輻射的準(zhǔn)確快速測(cè)量,儀器采用NaI晶體作為探測(cè)器，具有靈敏度高的特性。儀器攜帶方便，易于操作。本儀表可用于環(huán)保部門檢測(cè)環(huán)境本底情況，醫(yī)院人員監(jiān)測(cè)射線醫(yī)療設(shè)備附近本底，無損檢驗(yàn)(即射線探傷)裝置是否有輻射泄漏，核電站附近居民區(qū)環(huán)境本底測(cè)量，門的輻照育種設(shè)備是否有輻射泄漏。適用人群和機(jī)構(gòu)有：環(huán)境監(jiān)測(cè)機(jī)構(gòu)，醫(yī)院輻射醫(yī)療設(shè)備操作管理人員，射線探傷裝置的操作和管理人員，經(jīng)常需要使用放射源的劑量刻度站和研究核輻射和輻射儀表的科研人員等。
【技術(shù)指標(biāo)】
◆輻射類型：X，γ
◆探測(cè)器：Φ50 × 40 mm，NaI（Tl）晶體
◆測(cè)量范圍：0.01 ~ 200µSv/h
◆測(cè)量精度：± 10%（100 µSv/h，137Cs）
◆能量響應(yīng)： 40 keV ~ 1.3 MeV
◆響應(yīng)時(shí)間：< 3 s
◆工作時(shí)間：4節(jié)AA1.5V電池
◆機(jī)械尺寸：主機(jī)：寬141 mm × 高111 mm × 厚38 mm
◆探頭：Φ 60 × 254 mm（不含手柄）
FJ1200環(huán)境級(jí)X、γ輻射測(cè)量?jī)x主要用于環(huán)境輻射本底以及低水平X、γ輻射的準(zhǔn)確快速測(cè)量,儀器采用NaI晶體作為探測(cè)器，具有靈敏度高的特性。儀器攜帶方便，易于操作。本儀表可用于環(huán)保部門檢測(cè)環(huán)境本底情況，醫(yī)院人員監(jiān)測(cè)射線醫(yī)療設(shè)備附近本底，無損檢驗(yàn)(即射線探傷)裝置是否有輻射泄漏，核電站附近居民區(qū)環(huán)境本底測(cè)量，門的輻照育種設(shè)備是否有輻射泄漏。適用人群和機(jī)構(gòu)有：環(huán)境監(jiān)測(cè)機(jī)構(gòu)，醫(yī)院輻射醫(yī)療設(shè)備操作管理人員，射線探傷裝置的操作和管理人員，經(jīng)常需要使用放射源的劑量刻度站和研究核輻射和輻射儀表的科研人員等。
【技術(shù)指標(biāo)】
◆輻射類型：X，γ
◆探測(cè)器：Φ50 × 40 mm，NaI（Tl）晶體
◆測(cè)量范圍：0.01 ~ 200µSv/h
◆測(cè)量精度：± 10%（100 µSv/h，137Cs）
◆能量響應(yīng)： 40 keV ~ 1.3 MeV
◆響應(yīng)時(shí)間：< 3 s
◆工作時(shí)間：4節(jié)AA1.5V電池
◆機(jī)械尺寸：主機(jī)：寬141 mm × 高111 mm × 厚38 mm
◆探頭：Φ 60 × 254 mm（不含手柄）
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