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臺式掃描電子顯微鏡

產(chǎn)品二維碼
參  考  價:面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 產(chǎn)品型號:SEC/賽可
  • 品牌:賽可SEC
  • 產(chǎn)品類別:顯微鏡
  • 所在地:杭州市
  • 信息完整度:
  • 樣本:
  • 更新時間:2024-05-15 15:52:22
  • 瀏覽次數(shù):34
產(chǎn)品標(biāo)簽:

臺式掃描顯微鏡

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  • 經(jīng)營模式:經(jīng)銷商
  • 商鋪產(chǎn)品:2763條
  • 所在地區(qū):浙江杭州市
  • 注冊時間:2024-05-13
  • 最近登錄:2024-05-16
  • 聯(lián)系人:王一 (經(jīng)理)
  • 電    話:18257114903
產(chǎn)品簡介

賽可SNE-Alpha臺式掃描電子顯微鏡:賽可公司總部位于韓國水原市,是專業(yè)從事掃描電子顯微鏡和X-RAY檢測設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)的公司。自2006年推出臺式電鏡以來,賽可憑借其優(yōu)秀的生產(chǎn)工藝和持續(xù)的技術(shù)創(chuàng)新,在國內(nèi)外擁有眾多的用戶。

詳情介紹
    2023年SEC推出全新一代超高分辨率臺式掃描電鏡SNE-Alpha,大大提高操作便利性,提高測試效率!

    賽可SNE-Alpha
臺式掃描電子顯微鏡特點:

    更加人性化的新一代操作軟件,任何人都能輕松操作,無需專業(yè)測試人員。并提供豐富的擴展功能:顆粒物自動分析,3D粗糙度分析,超大視野拼圖軟件。超快的真空抽速,減少等待的煩惱,提高測試效率。小巧而精致的設(shè)計,可在狹窄的空間內(nèi)安裝使用。

    5nmResolution250,000xMagnification:

    1、同級別最高性能的StageNavigation功能:優(yōu)于5um的高精密navigation移動,可迅速位移。

    2、同級別不二標(biāo)配全自動5軸樣品臺:搭載全新的第三代操作軟件

    3、任何人均可簡單操作

    4、強大的自動功能

    5、超快的真空系統(tǒng)

    6、Vacuum90sec,Venting15sec

    7、同級別最快的真空系統(tǒng),豐富的擴展功能

    8、3D粗糙度分析,超大視野拼圖軟件

    9、顆粒物粒物自動分析(Particleanalysis)

    11、CompactDesign!更強大的性能!

    12、與現(xiàn)有型號相比,Dimension減少了40%

    13、300(W)x465(D)x600(H)

    14、強化用戶便利功能

    15、自動獲取Navigation圖像

    16、關(guān)閉樣品倉的同時開始自動抽真空

    賽可SNE-Alpha臺式掃描電鏡HIGH-PERFORMANCEHARDWARE:

    最高放大倍率25萬倍,5nmResolution,實現(xiàn)同級別最高放大倍率及超高分辨率,通過全新的高精密電子光學(xué)系統(tǒng),獲取高質(zhì)量圖像。

 

 

    五軸全自動樣品臺:

    優(yōu)于5um的高精密全自動樣品臺,實現(xiàn)迅速位移并精準(zhǔn)的找到樣品位置。

 

 

 

    小巧而精致的設(shè)計,進一步提高空間使用率。

    -與現(xiàn)款相比,Dimension減少40%

    -小巧緊湊,可在狹窄的空間內(nèi)安裝使用

    -300(W)x465(D)x600(H)

 

 

    NEW第三代Nano-eye

    全新的操作軟件,提高用戶體驗

    注重人性化的操作界面,操作更加便捷,在短時間內(nèi)輕松獲取高質(zhì)量圖像

 

 

    強大的自動功能

    *的AutoFocus功能,可快速獲取高質(zhì)量圖像

 

 

    超大視野拼圖功能:

    超大視野給用戶帶來更直觀的觀測體驗,通過超大視野拼圖功能,觀測樣品全貌,得到大范圍的高分辨率圖像

    所需區(qū)域后無需人員操作,軟件開始自動區(qū)域掃描,并將圖像拼成全景圖像,方便觀測并提高效率。

 

 

    3D粗糙度分析

    通過四分割BSE探測器,重構(gòu)3D立體圖像,簡單快速的分析表面粗糙度

 

 

    EDS(EnergyDispersiveX-raySpectrometer)是一種安裝在SEM(電子顯微鏡)上的分析樣品表面成分的裝置。

    利用掃描電鏡的電子束作用在待分析樣品上,接收不同元素在電子束作用后所產(chǎn)生的特征X射線信號進行定性和定量分析。

    Features:

    硅漂移探測器(SDD)

    30mm2有效面積

    超輕元素窗口,元素探測范圍B(5)~Cf(98),

    能量分辨率MnKα≤129eV

    帕爾貼制冷,無需液氮或其他冷卻劑

    簡便的操作軟件,快速實現(xiàn)對材料的微區(qū)化學(xué)成分分析

    主要功能:定性·定量分析,MappingLineScan,Report等   
 

 

 

 

 
    規(guī)格:

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