JKZC-YDZK03A壓電陶瓷高頻 LCR 數(shù)字電橋測試系統(tǒng) JKZC-YDZK03A壓電陶瓷高頻 LCR 數(shù)字電橋測試系統(tǒng) 壓電陶瓷高頻 LCR 數(shù)字電橋測試系統(tǒng)主要需安全可靠,溫度補償快、恒溫精度高,能夠極化壓電陶瓷和薄膜試樣,能夠極化任意大小的壓電薄膜試樣和壓電陶瓷樣品。 ★(1)壓電材料極化和耐壓測試:DC:0-30KV(±5%)連續(xù)可調(diào);配置電測試儀進行薄膜 D33 系數(shù)測試;電阻測試頻率:20HZ-5MHZ,自動平衡;(2)誤差:×1 擋:±2%,當 d33 在 100 到 4000pC/N; 計量標定標準樣尺寸:18mm*0.8mm,老化時間:不少于 2年;±5%±1 個數(shù)字,當 d33 在 10 到 200pC/N;×0.1 擋:±2%±1 個數(shù)字,(當 d33 在 10 到 200pC/N);±5%±1 個數(shù)字,當 d33 在 10 到 20pC/N。分辨率:×1 擋:1pC/N;×0.1 擋:0.1pC/N。 |
JKZC-YDZK03A壓電陶瓷
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