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JWDL-1型金屬電阻率測試儀

JWDL-1型金屬電阻率測試儀是一款針對于不同金屬材料電阻測試的專業(yè)設備，不管是銅金屬材料，導電金屬箔材，金屬片等，柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層都可以采用這款設備，金屬電阻率測試方案核心原則：一是可以用專門測試金屬材料電阻率的鎢針探頭，二是要知道金屬材料的測試范圍能夠更好的為你選配四探針測試儀。金屬材料屬于硬質材料，必須要選擇碳化鎢針探頭，這種探頭具有耐磨性好，使用時間長。WDL-1型金屬電阻率測試儀是判斷金屬性質的重要設備，也是材料生產(chǎn)廠家和科研的重要設備。

一、主要應用領域：

1、硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；

2、柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻

3、電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量

4、電池極片等箔上涂層電阻率方阻。

二、主要技術參數(shù)：

測量范圍

1、電 阻：1×10-4～2×105 Ω ，分辨率：1×10-5～1×102 Ω

2、電阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm

3、方 阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□

4、電壓量程： 20.00mV～2000mV

5、電流量程： 0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA，1A

6、誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字

7、材料尺寸：直徑：圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，

方測試臺直接測試方式180mm×180mm，

長(高)度：測試臺直接測試方式 H≤100mm,

測量方位: 軸向、徑向均可

8、探頭類型：

9、碳化鎢探針：Φ0.5mm，直線探針間距1.0mm，探針壓力: 0～2kg 可調(diào)

10、薄膜方阻探針：Φ0.7mm，直線或方形探針間距2.0mm，探針壓力: 0～0.6kg 可調(diào)

11、電源：輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：<20W

12、外形尺寸：主 機 220mm（長）×245 mm（寬）×100mm（高）

凈 重：≤2.5kg

導電金屬箔材

銅金屬材料

金屬材料