| 重量：1.8（kg） | 類型：超聲波探傷儀 | 型號：SBLJ-30/30B/30G |
| 尺寸：225*170*50（mm） | 分辨率：≧40dB | 品牌：SBE |
| 測量范圍：0～6000 |
| SBLJ-30/30B/30G |
數(shù)字超聲波探傷儀，體積更小巧、重量更輕便，便攜性更強(qiáng)，特別適合野外及高空探傷！
外形尺寸（mm）：210*156*40
重量（kg）：1.2
技術(shù)參數(shù)
| 名稱 | 技術(shù)數(shù)據(jù) |
| 掃描范圍（mm） | 0～6000 |
| 垂直線性誤差 | ≦3% |
| 水平線性誤差 | ≦0.2% |
| 探傷靈敏度余量 | ≧62dB（深200mmφ2平底孔） |
| 動態(tài)范圍 | ≧32dB |
| 分辨率 | ≧40dB |
| 頻率范圍（MHz） | 0.5～20 |
| 增益調(diào)節(jié)（dB） | 0～110 |
| 材料聲速（m/s） | 1000～9999 |
| 抑制 | 0～80% |
| 工作溫度（℃） | -27～70 |
| 外形尺寸（mm） | 225*170*50（LBUT30/30B） |
| 重量（Kg） | 1.8 |
主要功能
l 利用標(biāo)準(zhǔn)試塊手動或自動生成DAC、AVG曲線；
l 自動顯示缺陷回波位置（深度D、水平P、距離S、波幅H）；
l 自由切換三種標(biāo)尺（深度D、水平P、距離S）；
l 10個(gè)獨(dú)立探傷通道，可自由輸入并存儲任意行業(yè)的探傷標(biāo)準(zhǔn)（可根據(jù)用戶需求擴(kuò)展）；
l 可存儲300幅A形圖形、參數(shù)（可根據(jù)用戶需求擴(kuò)展）；
l 自動顯示缺陷當(dāng)量φ值；
l 高采樣率，低噪聲；
l 探頭方式：單晶、雙晶、穿透；
l 回波抑制；
l 回波次數(shù)分析。
輔助功能
l 自動增益、回波包絡(luò)、峰值記憶功能提高了探傷效率；
l 中英文操作界面；
l 角度和K值兩種輸入方式；
l 閘門聲光報(bào)警。
產(chǎn)品特點(diǎn)
l 利用PC通訊軟件可以升級儀器系統(tǒng)的功能；
l 鋰電池供電，可連續(xù)工作10小時(shí)；
l IP65標(biāo)準(zhǔn)鋁鎂合金外殼，堅(jiān)固耐用，防水防塵，抗干擾能力；
l 大屏幕高亮顯示，可以滿足在陽光下、涵洞中探傷的要求。
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