大面積掃描開爾文探針系統(tǒng)能夠在垂直方向移動(dòng)開爾文探針實(shí)現(xiàn)電動(dòng)控制開爾文探針與樣品的距離。 樣品安裝到真空吸盤上，真空吸盤可帶著樣品移動(dòng)150x150mm位移，從而實(shí)現(xiàn)開爾文掃描探針系統(tǒng)大面積掃描樣品表面。
大面積掃描開爾文探針系統(tǒng)特色:
電動(dòng)控制開爾文探針與樣品的距離
電動(dòng)控制樣品XY移動(dòng)范圍150 mm x 150 mm
具有編碼器的主動(dòng)定位定位追蹤系統(tǒng)
Z方向步進(jìn)大小: 625 nm
X - and Y-方向: 5 μm / microstep
功函分辨率:: < 1 meV with 1.4 mm tip diameter on metals
最小的探針直徑: 0.1 mm
集成法拉第防護(hù)功能
框架表面鍍金
開爾文探針頭采用純金工藝
外形尺寸: 50 cm (W) x 60 cm (D) x 25 cm (H)
樣品尺寸: 150 mm x 150 mm
真空樣品吸盤
包含參考樣品標(biāo)準(zhǔn): HOPG, Au on Si, Al/Au-edge, Potential Check
可選配溫度和濕度傳感器
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