這款單點開爾文探針系統(tǒng)是款用于室溫條件和普通實驗室條件下的開爾文掃描探針系統(tǒng),Kelvin Probe System.它具有極為緊湊結構，可安放到各種環(huán)境箱或防塵罩中。
單點開爾文探針系統(tǒng)的探針頭與振蕩薄膜一起使用，預放大器集成到探針頭中，方便更換。
開爾文探針系統(tǒng)參數(shù)
探針與樣品表面之間采用電動控制調節(jié)距離
Z軸定位分辨率: 5 μm
功函分辨率: < 1 meV with 1.4 mm tip diameter on metals
最小的探針直徑: 0.1 mm
集成法拉第防護功能
開爾文探針頭采用純金工藝，底板表面鍍金
樣品架磁性固定到底板上
樣品架直徑：40mm 帶有 3 mm 孔用于標準SEM樣品架子
可測樣品尺寸: 100 mm x 100 mm (mounted on Base plate)
振動隔離腿設計
包括參考樣品材料: HOPG, Au on Si
配備湯姆森控制器和計算機
可選配溫度和濕度傳感器
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