表面殘留檢測(cè)儀可以監(jiān)測(cè)到0.3 μg/cm2殘余量的有機(jī)化合物殘留,表面殘留檢測(cè)儀可廣泛用于金屬,玻璃,聚合物表面的材料檢測(cè)分析,是的的表面殘留分析儀。
高靈敏度表面殘留分析儀特點(diǎn)
采用的FTIR光譜技術(shù)，
高精度地探測(cè)物體表面的有機(jī)化合物，
是目前范圍內(nèi)這一技術(shù)的靈敏度的表面檢測(cè)儀器。
表面殘留分析儀特點(diǎn)
可以監(jiān)測(cè)到0.3 μg/cm2殘余量的有機(jī)化合物殘留，
可廣泛用于金屬，玻璃，聚合物表面的材料檢測(cè)分析。
比如，計(jì)算機(jī)硬盤和制藥反應(yīng)器表面的殘留都可以使用這種表面殘留檢測(cè)儀檢測(cè)，即使存在清潔劑和其它輔料等殘留，也可以分析檢測(cè)到原料藥成分（APIs）.
能夠?qū)崟r(shí)分析復(fù)雜表面，手持式測(cè)量探頭放置到表面上就可以直接測(cè)量，使用非常簡(jiǎn)易方便。
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