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GUT-6000B數(shù)字IC測(cè)試儀主要特點(diǎn)：

GUT-6000B一款臺(tái)式數(shù)字IC測(cè)試儀。為了自動(dòng)完成測(cè)試任務(wù)，GUT-6000B包含自動(dòng)搜索和循環(huán)測(cè)試等功能，以及自能化連續(xù)偵測(cè)壞損IC功能。自我診斷和過(guò)載保護(hù)功能使它更接近零維護(hù)，減少了用戶不必要的麻煩。

可測(cè)試1800多種常見的TTL和CMOS器件，真正在數(shù)字IC測(cè)試領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)一個(gè)機(jī)型測(cè)量所有器件的解決方案。

循環(huán)測(cè)試，自動(dòng)搜尋，自我診斷。過(guò)載保護(hù)，測(cè)量1800種設(shè)備

支持54/74系列TTL，支持4000和4500系列CMOS

測(cè)試管腳：28-pin

GUT-6000B產(chǎn)品規(guī)格：

產(chǎn)品規(guī)格：

GUT-6000B訂購(gòu)信息：

使用手冊(cè)x1， 電源線x1