顆粒表面特性分析儀MagnoMeter XRS---有效避免測(cè)量顆粒表征錯(cuò)誤
在分析復(fù)雜固-液和液-液配方時(shí),傳統(tǒng)的粒度測(cè)量方法是基于2個(gè)假設(shè), 個(gè)假設(shè)是所有顆粒都是球形和光滑的,但球形和光滑的顆粒在大多數(shù)工業(yè)材料中很少出現(xiàn); 個(gè)假設(shè)是粒子總是均勻一致的,這也并不準(zhǔn)確。由于這些錯(cuò)誤的假設(shè),測(cè)量粒徑和顆粒表面積可能會(huì)產(chǎn)生誤導(dǎo),從而導(dǎo)致后續(xù)工藝和使用過程中的出現(xiàn)誤差。
德國(guó)ORONTEC公司研發(fā)的顆粒表面特性分析儀MagnoMeter XRS使用核磁共振NMR技術(shù)直接測(cè)量顆粒大小和形狀,避免高成本的錯(cuò)誤,具有以下的功能:
●輕松區(qū)分大小相同但表面或形狀不同的產(chǎn)品;
●可以顯示相同材料表面化學(xué)成分的差異
得益于這些功能,MagnoMeter XRS能夠?yàn)槿魏涡袠I(yè)在配方或者制造過程的任何階段提供 的功能和分析性能。
顆粒表面特性分析儀MagnoMeter XRS操作簡(jiǎn)單
?無需樣品制備:所有技術(shù)相關(guān)和行業(yè)相關(guān)的濃度均可直接測(cè)量,無需稀釋
?占用空間?。壕哂性S多MagnoPod和控制模塊的配置選項(xiàng)
?測(cè)量實(shí)時(shí)進(jìn)行:根據(jù)不同的樣品,測(cè)量結(jié)果在1s內(nèi)或 遲2min后得出
?顆粒測(cè)量新技術(shù):MagnoMeter XRS 為傳統(tǒng)粒度測(cè)量、zeta 電位、BET 氣體吸附和汞孔隙率測(cè)定分析提供了一種補(bǔ)充技術(shù)。
顆粒表面特性分析儀MagnoMeter XRS優(yōu)點(diǎn)
?顆粒表面特性分析儀MagnoMeter XRS沒有移動(dòng)部件,不需要光學(xué)校準(zhǔn),通過簡(jiǎn)單的插件設(shè)置即可開始測(cè)量
?溫度控制MagnoPod與控制模塊隔離, 電子和熱干擾
?一個(gè)控制模塊可以操作多個(gè)磁控振蕩器,是隔離危險(xiǎn)樣品的理想選擇
?允許在空濃度范圍內(nèi)進(jìn)行直接樣品測(cè)量,具有出色的信噪比
?可以用標(biāo)準(zhǔn)核磁共振管操作
顆粒表面特性分析儀MagnoMeter XRS適用領(lǐng)域
顆粒表面特性分析儀MagnoMeter XRS的用途非常廣泛,無論是在研發(fā)、質(zhì)量控制和保證方面,還是在過程控制實(shí)驗(yàn)室測(cè)量速度和可靠性方面,顆粒表面特性分析儀MagnoMeter XRS都是一種 的工具,廣泛運(yùn)用在以下的領(lǐng)域:
?來料的質(zhì)量控制
?中間制造過程監(jiān)控
?成品質(zhì)量保證
?產(chǎn)品保質(zhì)期確定
客戶舉例
歐洲分散技術(shù)中心The European Center for Dispersion Technologies(EZD)使用顆粒表面特性分析儀MagnoMeter XRS進(jìn)行顆粒表征分析。
翁開爾是德國(guó)ORONTEC中國(guó)總代理,歡迎致電【】咨詢更多關(guān)于顆粒表面特性分析儀MagnoMeter XRS產(chǎn)品信息,技術(shù)應(yīng)用和客戶案例。
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