連續(xù)雙通道顆粒外形異物掃描篩選機(jī)
異物的測量和分類是決定產(chǎn)品質(zhì)量和客戶信任程度的重要因素。最近,這些問題不僅與外觀有關(guān),還與安全有關(guān)。然而,抑制原始異物的能力有限,對異物測量消除器的需求一直在不斷增加。
與此同時(shí),測量和分選異物的方法一直側(cè)重于測量速度,揭示了測量的局限性,以及分選含異物顆粒的產(chǎn)率極低等問題。此外,最近要求雜質(zhì)顆粒的下限尺寸要小得多,因此必須準(zhǔn)確、快速地測量細(xì)小雜質(zhì),并確保去除效率。
為了滿足這一工業(yè)要求,國外的顆粒測量和分選系統(tǒng)基本上采用高速旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)臺進(jìn)行樣品轉(zhuǎn)移,而不是重力沉降法,因?yàn)橹亓Τ两捣〞斐少|(zhì)量故障。
放置在特殊鋼化玻璃轉(zhuǎn)盤頂部和底部的雙攝像頭照明系統(tǒng)可以同時(shí)從兩側(cè)重復(fù)測量異物,確保準(zhǔn)確穩(wěn)定的測量至少達(dá)到10微米。
從粒子的基本屬性(例如陰影、穿孔、彩色反射)顯著減少光學(xué)誤判,與人工智能程序配合使用,該程序僅能準(zhǔn)確判斷異物,并可選擇配置為通過與異物清除設(shè)備(如高速分流器)實(shí)時(shí)合并,同時(shí)執(zhí)行非常穩(wěn)定和準(zhǔn)確的異物測量和清除。同時(shí)雙測量系統(tǒng)能夠在50微米的基礎(chǔ) ,分析高達(dá)每小時(shí)200kg的數(shù)據(jù)。這個(gè)產(chǎn)品可以非常簡單地應(yīng)用于生產(chǎn)、質(zhì)量控制和最終產(chǎn)品控制。
特點(diǎn):
雙重探測系統(tǒng) 外來顏色或外來形狀
各種照明控制 堅(jiān)固方便的設(shè)計(jì)
自由行動 自動平衡
剛性工業(yè)PC和控制過程采樣器 自動電離空氣控制清洗系統(tǒng)
檢測限:20μm 分析速度:200kg/1小時(shí)。
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