| BKTEM-B1型薄膜熱電參數(shù)測試系統(tǒng) BKTEM-B1型薄膜熱電參數(shù)測試系統(tǒng) 關(guān)鍵詞：熱電，賽貝克系數(shù)，電阻率 BKTEM-B1型薄膜熱電參數(shù)測試系統(tǒng)薄膜熱電參數(shù)測試系統(tǒng)MRS-3RT專門針對常溫下薄膜材料的澤貝克系數(shù)和電阻率的測量儀器，采用動態(tài)法和四線法保證測試結(jié)果的準(zhǔn)確和穩(wěn)定，擁有寬廣的測試范圍和便捷的操作界面。 產(chǎn)品特點 ● 專門針對薄膜材料的Seebeck系數(shù)和電阻率測量。 ● 測試環(huán)境溫度范圍達到81K~700K。 ● 采用動態(tài)法測 量Seebeck系數(shù)，避免了靜態(tài)測量在溫差測量上的系統(tǒng)誤差，測量更準(zhǔn)確。 ● 采用四線法測量電阻率。 ● 卡箍設(shè)計，方便進行樣品更換，提高效率。 ● 軟件操作簡單，智能化可實現(xiàn)全自動模式。 產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)
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BKTEM-B1型薄膜熱電參數(shù)測
產(chǎn)品二維碼| 參 考 價: | 面議 |
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
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