XZQ-5000型諧振腔法高溫介電溫譜測(cè)試儀 XZQ-5000型諧振腔法高溫介電溫譜測(cè)試儀 諧振腔法是一種重要的材料測(cè)量方法,具有廣泛的應(yīng)用前景。隨著科技的不斷發(fā)展,諧振腔法將會(huì)在材料科學(xué)、電子工程、通信技術(shù)等領(lǐng)域發(fā)揮越來(lái)越重要的作用。XZQ-5000型諧振腔法高溫介電溫譜測(cè)試儀是為中低損耗材料、均質(zhì)材料、小樣品測(cè)試等需求而開(kāi)發(fā)的一款高精度高性?xún)r(jià)比的材料測(cè)試平臺(tái)。融合矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀和試夾具于一體,可進(jìn)行30MHz到110GHz頻率范圍內(nèi)的微波復(fù)介電常數(shù)測(cè)試。該系列產(chǎn)品精度高、接口豐富,在科研實(shí)驗(yàn)中能發(fā)揮十分重要的作用。 主要特點(diǎn): 1、 測(cè)試精度高,速度快 2、 頻率范圍: 0.1~110.0GHz 3、 系統(tǒng)配置簡(jiǎn)單,易操作,測(cè)量軟件簡(jiǎn)單易用,自動(dòng)化程度高 主要技術(shù)參數(shù): 1、頻率范圍: 0.1~110.0GHz 2、測(cè)試溫度:-50~1750℃ 3、電磁參數(shù)測(cè)試范圍: er'= 1.0~100,tanoc=1.0×10-4 ~ 5×10-2ur'= 0.1 ~10.0,tanou =1.0×103~1.0 一、諧振腔微擾法測(cè)試設(shè)備 頻率范圍:0.1~40.0GHz測(cè)試溫度:室溫~1750℃復(fù)介電常數(shù)測(cè)試范圍: cr'= 1.0 ~30.0 tan&e=2.0×10-~5×102ur'= 0.5~10 tanou = 0.001 ~1.0常溫測(cè)試誤差: |Asr'/er'/≤1.5%當(dāng)sr'=2.0 ~30.0 Acr'|≤ 2.0% × cr'+0.02當(dāng)r'=1.05~2Atanoe≤ 15.0% tano8+ 2.0x10-4 Aur'/ur'/≤5.0% Atanou|≤ 15% tanou + 5.0x10-4樣品尺寸: 圓棒或方棒狀小樣品材料,直徑:1.0~6.Omm,高度不低于30mm; (實(shí)際尺寸視具體情況而定) 2、高Q腔法測(cè)試設(shè)備 頻率范圍:2.0~7.0 GHz、7.0 ~18.0 GHz測(cè)試溫度:室溫~1600℃ 復(fù)介電常數(shù)測(cè)試范圍: cr'=l~10 tanoc=1.0×10-4~1.5×10-2常溫測(cè)試誤差: |Acr'/cr'/≤2.0%當(dāng)sr'=2~10 Acr'|≤ 1.8%x Er'+0.02當(dāng)sr'=1.05~2Atanoe| ≤ 15% tanoe +1.0×10-4 樣品尺寸: 2.0~7.0GHz 圓片材料直徑:150.0mm,厚度:3.0 ~10.Omm 7.0~18.0 GHz 圓片材料直徑:50.0mm,厚度:1.5~3.0mm
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XZQ-5000型諧振腔法高溫介
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