GWJDN-4型高低溫介電溫譜測(cè)量系統(tǒng) GWJDN-4型高低溫介電溫譜測(cè)量系統(tǒng) 關(guān)鍵詞:四通道,溫度:-190℃-1000℃,120MHZ GWJDN-4型四通道同屏高溫介電溫譜測(cè)量系統(tǒng)運(yùn)用三電極法設(shè)計(jì)原理測(cè)量,并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。采用Labview系統(tǒng)開發(fā)具備彈性的自定義功能,可進(jìn)行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測(cè)量參數(shù)等設(shè)置,符合壓電陶瓷與其它新材料測(cè)試多樣化的需求。電壓、過電流、超溫等異常情況以保證測(cè)試過程的安全;資料保存機(jī)制,當(dāng)遇到電腦異常瞬時(shí)斷電可將資料保存于控制器中,不丟失試驗(yàn)數(shù)據(jù),設(shè)備重新啟動(dòng)后可恢復(fù)原有試驗(yàn)數(shù)據(jù)。用于分析寬頻、高低溫條件下樣品的介電系數(shù)、阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量,得到這些變化曲線的頻率譜、溫度譜、介電譜曲線??蓮V泛應(yīng)用于鐵電壓電陶瓷材料、半導(dǎo)體器件及功能薄膜材料等研究。 產(chǎn)品特點(diǎn): 1、 提供多方位的測(cè)量功能和多元化的價(jià)位, 擁有更出色的測(cè)量精度: 匹配阻抗分析儀是采用當(dāng)前的自動(dòng)平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測(cè)試儀器,其0.05%的基本精度、達(dá)5.6ms的測(cè)試速度、10Hz-300MHz的頻率范圍及高達(dá)1GΩ的阻抗測(cè)試范圍可以滿足元件與材料的測(cè)量要求,特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測(cè)量。四端對(duì)的端口配置方式可有效消除測(cè)試線電磁耦合的影響,將低阻抗測(cè)試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。 2、 采用Labview系統(tǒng)開發(fā)具備彈性的自定義功能,可進(jìn)行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測(cè)量參數(shù)等設(shè)置。自動(dòng)升溫降溫,測(cè)試功能強(qiáng)大 3、 四通道同時(shí)測(cè)量,提高效率,增加對(duì)比測(cè)試的精度; 材料與結(jié)構(gòu)匹配設(shè)計(jì)夾具,高低溫穩(wěn)定性好、精度高; 溫介電頻譜測(cè)試功能;變溫阻抗測(cè)試功能;掃頻測(cè)試功能; 軟件:采用C#語言編寫,可視化程度高,自動(dòng)測(cè)試,同時(shí)顯示四通道的測(cè)試數(shù)據(jù),并圖形化。 4、 專用高頻測(cè)試線纜,更適合高頻測(cè)量:測(cè)試引線使用4端子對(duì)配置以擴(kuò)展測(cè)量端口,附帶BNC陽頭連接板,用于連接高溫爐的測(cè)試夾具,同時(shí)測(cè)試線采用高頻測(cè)試專用測(cè)試線,設(shè)計(jì)兩層屏蔽。更適合高頻介電參數(shù)測(cè)量。 5、 可以實(shí)現(xiàn)多種材料不同功能的測(cè)試,高溫介電,電阻測(cè)試等 探測(cè)采用高精度鉑金電極,抗干擾能力強(qiáng),測(cè)量精度高 高溫爐加熱均勻,可實(shí)現(xiàn)多種氣氛環(huán)境下的測(cè)試 介電系數(shù)、阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量,得到這些變化曲線的頻率譜、溫度譜、介電譜曲線,多種物理參數(shù)可實(shí)時(shí)測(cè)試 專用的分析和測(cè)試軟件,可以自行定義,保存數(shù)據(jù)
主要技術(shù)參數(shù): 1、加熱范圍: -190℃-1000℃ 2、加熱方式: 雙傳感器 3、升溫速率: 10℃/min 4、溫度精度: 0.1℃ 5、冷卻方式: 液氮 6、能否保護(hù)氣氛加熱:可以充氣氛 7、電極材料: 鉑銥金 8、測(cè)量功能: 阻抗各種功能 9、通道數(shù):4通道 10、同時(shí)測(cè)試樣品數(shù)量: 四個(gè)樣品 11、測(cè)試頻率數(shù)量 20HZ-120MHZ 12、可配套:ZJ-3型精密D33系數(shù)測(cè)儀,配套PZT-JH10/4型壓電極化裝置 13、無電極樣品尺寸 直徑小于40mm,厚度小于8mm 14、帶電極樣品尺寸 直徑小于26mm,厚度小于8mm 15、電極干擾屏蔽 電極引線帶同軸屏蔽,樣品平臺(tái)帶屏蔽罩 16、夾具升降控制 帶程序和手動(dòng)控制,可更換夾具的電動(dòng)升降裝置 17、熱電偶 熱電偶探頭與樣品平臺(tái)為同一熱沉,測(cè)控溫度與樣品溫度保持一致 18、軟件功能:自動(dòng)分析數(shù)據(jù),可以分類保存,樣品和測(cè)量方案結(jié)合在一起,生成系統(tǒng)所需的實(shí)驗(yàn)方案,輸出TXT、XLS、BMP等格式文件 20、測(cè)量方案 提供靈活、豐富的測(cè)試設(shè)置功能,包括頻率譜、阻抗譜、介電譜及其組合 21、接口方式:包括Keysight/WayneKerr/Tonghui等多種LCR接口, 20、外形尺寸 L360mm*W370mm*H510mm 21、凈 重 22KG 22、標(biāo)準(zhǔn)極化樣品:8片(10mm*1.5mm) 23、配套設(shè)備裝置:能夠配合ZJ-3和ZJ-6壓電測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)量 24、配套設(shè)備裝置:可以配置10MM,20MM,30MM,40MM壓片夾具
測(cè)試儀器: 高溫介電測(cè)試系統(tǒng)可適配Agilent E4990A/E4294A/E4980A、Wayne Kerr 6500P/B、 Tonghui TH2838/TH2839/TH2826/TH2828/TH2829/TH2827等系列LCR表或阻抗分析儀,其他品牌型號(hào)也可定制開發(fā) Agilent E4990A · 五種頻率選擇;20 Hz 至 10/20/30/50/120 MHz,可升級(jí) · ±0.08%(典型值 ±0.045%)基本阻抗測(cè)量精度 · 25Ω m 至 40 MΩ 寬阻抗測(cè)量范圍(10% 測(cè)量精度范圍) · 測(cè)量參數(shù):|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q、復(fù)合 Z、復(fù)合 Y、VAC、Iac、VDC、Idc · 內(nèi)置直流偏置范圍:0 V 至 ±40 V、0 A 至 ±100 mA · 10.4 英寸彩色 LCD 觸摸屏上的 4 通道和 4 跡線 · 數(shù)據(jù)分析功能:等效電路分析、極限線測(cè)試 Agilent E4294A 覆蓋了很寬的測(cè)試頻率范圍(40hz至110mhz),具有±0.08%的基本阻抗精度。其優(yōu)異的高q值/低d值精度使其能分析低損耗元件。其寬信號(hào)電平范圍可用于在實(shí)際工作條件下評(píng)估器件。測(cè)試信號(hào)電平范圍為5mv至1vrms或200ua至20marms,直流偏置范圍為0v至±40v或0ma至±100ma。的校準(zhǔn)和誤差補(bǔ)償功能避免了進(jìn)行夾具內(nèi)器件測(cè)量時(shí)的測(cè)量誤差。agilent 4294a是適用于電子元件設(shè)計(jì)、論證、質(zhì)量控制和生產(chǎn)測(cè)試的強(qiáng)大工具。電路設(shè)計(jì)和開發(fā)工程師也能從它提供的性能和功能中受益。 Agilent E4980A 基本精度為0.1% 測(cè)試頻率為100Hz、120Hz、1kHz、10kHz、100kHz Wayne Kerr 6500P/B 簡(jiǎn)易的TFT觸屏操作,10分鐘內(nèi)輕易上手 電介質(zhì)、壓電片及石英晶體測(cè)試解決方案 30 ms超高速測(cè)試速度 等效Rdc 可高度精準(zhǔn)四線式測(cè)試,量測(cè)到0.01mΩ 0.05%基本精確度 可內(nèi)建0-100mA +/- 40V,外加可至60A DC Bias 可將測(cè)試波形儲(chǔ)存成CSV格式,放大、縮小及MARKER功能 20Hz~120MHz,七種機(jī)型,可隨時(shí)升級(jí) ,升級(jí)到120MHz 直覺的用戶操作接口,USB、LAN、GPIB及HANDLER 可使用鼠標(biāo)及鍵盤操控,也可外接打印機(jī)及使用USB接口儲(chǔ)存數(shù)據(jù) 具等效電路仿真功能,內(nèi)建同頻率LCR Meter一臺(tái) Tonghui TH29系列 測(cè)試頻率:20Hz-1MHz,分辨率:0.1nHz 基本精度:0.05% 測(cè)試速度:5.6ms/次 測(cè)試原理:自動(dòng)平衡電橋 高穩(wěn)定性和一致性:高達(dá)15個(gè)測(cè)試量程配置 |
GWJDN-4型高低溫介電溫譜測(cè)
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