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輔光精密儀器(上海)有限公司

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薄膜厚度均勻性測量儀

產(chǎn)品二維碼
參   考   價(jià)： ￥ 20
訂  貨  量： ≥1臺(tái)
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 產(chǎn)品型號(hào)：FPANG-SRM100
  • 品牌：
  • 產(chǎn)品類別：消磁機(jī)
  • 所在地：
  • 信息完整度：
  • 樣本：
  • 更新時(shí)間：2022-07-15 07:58:33
  • 瀏覽次數(shù)：25

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輔光精密儀器(上海)有限公司

其他

  • 經(jīng)營模式：其他
  • 商鋪產(chǎn)品：988條
  • 所在地區(qū)：
  • 注冊時(shí)間：2017-04-26
  • 最近登錄：2022-07-14
  • 聯(lián)系人：楊經(jīng)理
產(chǎn)品簡介

這款薄膜厚度均勻性測量儀采用光譜反射計(jì)技術(shù)測量整個(gè)樣品薄膜面積的薄膜厚度和薄膜折射率等參數(shù)，獲得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均勻性參數(shù)

詳情介紹

　　這款薄膜厚度均勻性測量儀采用光譜反射計(jì)技術(shù)測量整個(gè)樣品薄膜面積的薄膜厚度和薄膜折射率等參數(shù)，獲得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均勻性參數(shù)。

　　這款薄膜厚度均勻性測量儀具有較長工作距離，工作距離可調(diào)，超大樣品臺(tái)，可選光源等特點(diǎn)。

薄膜厚度均勻性測量儀特點(diǎn)

　　易于安裝

　　軟件基于Windows系統(tǒng)，方便使用

　　*光學(xué)設(shè)計(jì)，良好系統(tǒng)表現(xiàn)

　　陣列光譜探測器保證快速測量

　　測量薄膜厚度和折射率高達(dá)5層

　　可測量反射，透射和吸收光譜

　　可用于實(shí)時(shí)在線的薄膜厚度和折射率測量

　　具有齊全的材料光譜舍數(shù)據(jù)庫

　　可升級到顯微分光光度計(jì)

　　適合不同襯底和不同薄膜厚度測量

薄膜厚度均勻性測量儀參數(shù)

　　波長范圍：250-1050nm

　　光點(diǎn)大?。?00um - 5mm

　　樣品大?。?00mm 直徑

　　襯底厚度： 高達(dá)50um

　　測量薄膜厚度范圍： 10nm -50um

　　重復(fù)定位精度：1um

　　測量時(shí)間：最小2ms

　　精度：0.5%

　　重復(fù)精度 lt;1A

薄膜厚度均勻性測量儀應(yīng)用

　　半導(dǎo)體制造

　　液晶顯示屏測量

　　刑偵

　　生物膜測量

　　礦石地質(zhì)分析

　　制藥醫(yī)學(xué)分析

　　光學(xué)鍍膜測量

　　功能薄膜MEMS測量

　　太陽能電池薄膜測量

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