CIF透射電鏡（TEM）樣品桿清洗機采用雙等離子清洗源設計，自動切換，一機多用，清洗快速高效。遠程等離子體清洗快速高效低轟擊損傷，同時可實現(xiàn)常規(guī)等離子清洗。主要用于TEM透射電鏡樣品桿的等離子體清洗和真空檢漏用途。
雙等離子清洗源
一機多用
快速高效低損傷
CIF透射電鏡樣品桿清洗機 雙等離子清洗源設計
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CIF透射電鏡（TEM）樣品桿清洗機采用雙等離子清洗源設計，自動切換，一機多用，清洗快速高效
CIF透射電鏡（TEM）樣品桿清洗機采用雙等離子清洗源設計，自動切換，一機多用，清洗快速高效。遠程等離子體清洗快速高效低轟擊損傷，同時可實現(xiàn)常規(guī)等離子清洗。主要用于TEM透射電鏡樣品桿的等離子體清洗和真空檢漏用途。
雙等離子清洗源
一機多用
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